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2026-01-06 -
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
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3342產品描述
ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。